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• 2024-10-03 10:29:01

  激光加工系统-加工控制软件

  激光加工系统-加工控制软件使用摄像头边观察加工位置，同时可在画面上设定加工图形和加工区域的控制软件。并整合了多个激光波长和照射条件的切换，物镜切换以及平台控制等功能。支持使用DXF格式的CAD数据，同时适用于开发试制和批量生产。

• 2024-10-02 10:22:29

  激光加工系统-扫描光学系统和聚光光学系统

  激光加工系统-扫描光学系统和聚光光学系统无掩模光刻，一般根据CAD数据进行直描加工。根据扫描方法不同，可分为扫描光学系统和聚光光学系统。（也有两者结合的混合型）

• 2024-10-01 10:07:42

  正立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-S系列

  正立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-S系列适用波片或培养皿的高精度自动载物台。▶适用于奥林巴斯BX系列，尼康80i·50i的各种正立显微镜。▶可以把原有的手动载物台改换为精密定位自动载物台。▶有不与照明聚光镜相互干扰的薄体标准型，薄体长行程型。

• 2024-09-26 10:11:30

  显微镜用自动XY轴载物台系统 BIOS

  显微镜用自动XY轴载物台系统 BIOS适用于透过 · 落射照明的各种显微镜。在所有的样品检查·图像获取中发挥作用。利用内置的线性光栅的反馈控制可以进行高精度的重复定位。倒立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-T系列可以方便地搭载在现有的显微镜上的高精度自动载物台。▶适用于奥林巴斯...

• 2024-09-25 10:15:20

  正立型BIOS-Light

  正立型BIOS-Light ＆BIOS-LS-S低价提供显微镜用XY平台。▶标准配件可选配，构建系统成本低廉。▶附属控制用软件。▶可连接操纵杆控制器（选购件）▶也可被用作透过型平台。

• 2024-09-24 10:09:48

  倒立型BIOS-Light

  低价提供显微镜用XY平台。▶标准配件可选配，构建系统成本低廉。▶附属控制用软件。▶可连接操纵杆控制器（选购件）▶也可被用作透过型平台。

• 2024-09-19 10:01:57

  显微镜用快门系统

  显微镜用快门系统 BSH2显微镜用电磁快门系统。可以组装到现有的显微镜中使用，装拆方便。非常适用于多时段或荧光观测等的显微镜观测。▶开口径为φ25mm的中心对称圆形开放型快门。▶控制器可选购1轴用，或2轴用的型号。▶借用演示程序［BSH-Demo-Software］可方便地实现计...

• 2024-09-18 09:55:57

  利用红外线的遗传因子发现系统

  利用红外线的遗传因子发现系统 IR-LEGO Systems在显微镜下，可发现指定细胞的遗传因子的系统▶利用近红外激光进行局部加热的方式。▶通过显微镜可发现细胞的特定遗传因子。▶可用于倒立型显微镜和正立型显微镜。

• 2024-09-17 10:17:58

  光镊Mini

  光镊Mini -LMS低价格的光镊Mini型产品。▶使用激光束，非接触地捕捉显微镜下的细胞或生体组织。▶选用了近红外（1064nm）波长，最大限度地抑制了对细胞或生体组织的影响。▶可捕捉0.2〜20μm左右的微粒子。▶和另售的显微镜用XY自动平台配合使用，可把被捕捉的物体移动到任...

• 2024-09-12 11:37:48

  微操作系统MMS

  微操作系统MMS利用光镊对细胞或生物分子进行自由操作。▶在显微镜观察下，可以利用激光束的非接触方法，对细胞或生物分子进行捕获，移动操作。▶激光捕获使用近红外（1064nm）激光，最大限度地抑制了对细胞或生物分子的损害。▶可以捕捉0.2〜20μm左右的微粒子。▶2光束光学系统可以对...

• 2024-09-11 11:04:40

  反射率测量仪

  反射率测量仪SGRM-200N可实现微小区域和曲面的反射率测量。可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。▶采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。▶...

• 2024-09-10 10:52:25

  自动偏光解析系统-圆偏光测定装载

  圆偏光测定装载▶采用立式透过光学系统的偏光光学件特性评价系统▶只需把被测样品放置到台架上就可完成测定。▶可测定分光相位差，偏光分光特性，透过偏光比等。

• 2024-09-05 10:37:55

  自动偏光解析系统-内部应变检查装置

  内部应变检查装置▶可观测纹理，加工应变等，样品内部的应变的装置。▶可把内部应变的分布和变化录像。

• 2024-09-04 10:29:47

  自动偏光解析系统-样品特性测定装置

  样品特性测定装置▶任意偏光光源，样品保持机构，偏光测定装置的组合，可完成样品的特性的测定。▶可构建透过型或反射型。▶反射型即可测偏光特性，也可用作椭圆偏振光法（Elipsometry）。

• 2024-09-03 10:05:49

  自动偏光解析系统-偏光测定装置

  偏光测定装置▶计测和解析入射光束偏光状态的装置。▶可求入射偏光的斯托克斯参数S0〜S3。

• 2024-08-29 10:09:39

  自动偏光解析系统-万能偏光光源

  万能偏光光源▶在光源的后方设置偏光操作光学系统，可输出任意偏光状态的光束。▶可选择直线偏光，圆偏光，椭圆偏光以及长短轴比例，转动方向等。▶可用计算机动态控制。便于评估具有偏光依存性的样品，或在光路后部进行偏光补偿。

• 2024-08-28 09:56:36

  分光镜组件︱DTM-PSM33-30C03-10W-550

  分光镜组件︱DTM-PSM33-30C03-10W-550用于斐索干渉仪参考面的分光镜组件。为了得到更好的干渉条纹的对比度，其反射透过比被设定为１：２了。

• 2024-08-27 10:01:38

  精密透镜架组件︱TAT-AD20-TSD-40801S

  精密透镜架组件︱TAT-AD20-TSD-40801S固定被検凹面样品，并可精密调整的组件。　　被检凹面镜外径：φ20mm　　厚度：～6mm

• 2024-08-22 09:44:37

  微小样品架组件︱DTM-MLF-SF

  微小样品架组件︱DTM-MLF-SF借用了Selfoc®镜夹的夹持微小样品的组件。　　样品尺寸范围：φ15～φ3mm

• 2024-08-21 10:05:29

  光路切替反射镜组件︱TFA-30C05-10-TSD-40801S

  光路切替反射镜组件︱TFA-30C05-10-TSD-40801S使用大行程的平台，可实现镜架避让出光路的组件。