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光学系统像差传函焦距测量综合实验

      实际光学系统成像与理想光学系统成像之间的差异称为像差，该参数主要用于评价光学系统的成像质量；传递函数测量法是工程上常用于光学系统成像质量评价的方法。光学系统像差理论及传递函数测量是《工程光学》课程的重要章节。RealLight® 开发的像差测量实验，采用专门设计的像差镜头，像差现象清晰；传递函数测量实验，采用分辨率直读法和调制传递函数（MTF）测量法，紧密结合实际工程应用。本实验紧贴光电教学内容，适用于光电专业本科生实验，亦可作为高职院校实训设备及工厂生产检验设备使用。

实验内容:

1、光学系统像差的计算机模拟实验；

2、平行光管的调整及使用方法实验；

3、轴向位置色差的测量实验；

4、像差的星点法观测实验；

5、刀口仪阴影法原理及阴影法测量光学系统像差实验；

6、分辨力板直读法测量光学系统分辨率；

7、利用变频朗奇光栅测量光学系统MTF值实验；

8、基于线扩散函数测量光学系统MTF值实验；

9、正透镜焦距测量实验；

10、负透镜焦距测量实验。

选配设备参数

1、计算机（基本配置）。

主要设备参数

1.光源组件：
光纤耦合激光器： 650nm， P>1.5mW，单模光纤，芯径4μm， TEM00， 3mmPVC光纤保护套，光纤接头FC/PC，光纤长度100cm。
2.平行光管组件：
光源：白光/三色LED， P>1W，亮度连续可调；
平行光管：内部装配双胶合透镜， f=400mm，通光口径Φ50mm，光洁度IV级透镜，采用Φ25mm光学元件平行光管专用镜座，外径55mm，毛玻璃Φ20mm可卸， D/F=1:8；
机械针孔： Φ50μm，精度±0.5μm；
朗奇光栅：外形63.5×31.8mm， 5～80 LP/mm，负片；
狭缝：外形Ф25， 20μm×20mm，负片；
十字缝：外形Φ25mm，缝宽0.05，缝长22，厚度： 0.1；负片；
多缝板：外形Φ25mm，四种线对间距： 2mm， 4mm， 10mm， 15mm，符合JB/T 9328-1999标准玻罗板，负片。
3.光学组件：
变焦成像镜头： f=4mm～12mm， F1.6；
待测镜片一批： Φ25mm～40mm（包含正透镜和负透镜）。
4.探测器组件：
CMOS相机： 130万像素，分辨率1280×1024，黑白，逐行扫描， 1/1.8″，像素大小
5.2μm×5.2μm。
5.像差镜头组件：
场曲镜头：通光口径为Φ23mm，外径Φ36mm，长度80.5mm， f=71.6mm，光洁度IV级，
K9材料，镀宽带增透400nm～700nm；
球差镜头：通光口径为Φ23mm， f=100mm，光洁度IV级， K9材料，镀宽带增透400nm～700nm，整体厚度为： 23.8mm，光阑可调；
彗差镜头：通光口径为Φ23mm，外径Φ36mm， L=68mm， f=90mm，光洁度IV级， K9材料，镀宽带增透400nm～700nm；
像散镜头：通光口径为Φ18mm，外径Φ36mm， L=75.3mm， f=55.6mm，光洁度IV级， K9材料，镀宽带增透400nm～700nm。
6.刀口仪组件：
尺寸L×W=95mm×55mm，行程L=30mm，允许焦点大小<Φ12mm，微调分辨率0.01mm。
7.机械组件：
精密光学导轨： L×W=1200mm×90mm，配套滑块、一维移动滑块、调节支座、支杆；
高精度调节镜架：稳定性<2′；侧推平移台： 65×65mm台面，一维侧推，行程±12.5mm，读数精度0.01mm。
8.光纤准直镜：
通光孔径Φ30mm，接口FC/PC，用于光纤耦合激光器的光束准直。
9.软件组件：
像差计算仿真软件，三维计算结果演示，传递函数测量模块，图像采集， USB2.0软件锁。
10.实验手册及保修卡。