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地址： 广州市天河区儒林大街后园路35号E座107房
样品特性测定装置
▶任意偏光光源，样品保持机构，偏光测定装置的组合，可完成样品的特性的测定。
▶可构建透过型或反射型。
▶反射型即可测偏光特性，也可用作椭圆偏振光法（Elipsometry）。
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