行业知识
新闻资讯
- 诚挚邀请您出席《2024年广东省物理学会学术年会暨中山大学物理学科百年论坛》
- 诚挚邀请您出席《2023粤港澳大湾区智能微纳光电技术学术会议》
- 诚挚邀请您出席《第三届全国光子技术论坛》
- 祝贺第二十届全国量子光学学术会议圆满结束
联系必威betway官网
联系人: 周先生
手机:
电话:
邮箱: sales01#laotangporcelain.com
地址: 广东省广州市天河区棠东官育路22号B239房
行业知识
光学薄膜检测技术-薄膜反射率测量
光学薄膜检测技术-薄膜反射率测量
薄膜反射率的测量不如透射率那样方便和普及。反射率的测量比透射率要复杂和困难。其主要原因是;
1)不容易找到在很宽波段范围中具有 100%反射率性能的长期稳定的参考样品。
2) 在反射率测量中,由于反射光路的变化灵敏,有样品和无样品时,光斑在光电探测器光敏面上的位置往往会变动,这导致误差明显增加。
3)各种薄膜元件对反射率测量的范围和准确度都有不同的要求。例如减反射膜,希望测得低反射率的准确度不低于 0.1%,而激光高反射镜要求在反射率高于99%的范围内,能够有优于 001%的测量准确度。
下面介绍几种测量反射率时常用的方法。
1) 相对反射率测量:相对反射率测量光路示意图如图 3-5 所示。
在相对反射率的测试中,关键点在于找到满足测量要求的参考样品,这种方法简单方便,适合于低反射率测量。
2) 绝对反射率测量: 绝对反射率测量一般采用 V-W 型,这种方法通过测量光的多次反射来提高测量准确度,光路示意图如图 3-6 所示。
利用V-W型光路测量薄膜反射率时,需要一块反射率较高的(不必知道具体数值)参比反射镜 Rf。为了降低定位准确度的要求,最好选用球面反射镜在第一次测量中,参比反射镜 Rf 在位置I,光线仅受到该镜的反射。如果入射光强度为I 0,光电器件接收到的光强度I 1为
I 1= Rf I0 (3-1)
在第二次测量中,将待测样品加入,Rf在转至位置Ⅱ、位置Q 时样品表面与位置 I 成轴对称。光线在样品表面反射两次,在辅助反射镜上反射一次,然后沿与第一次相同的光路投射到光电器件上。该时接收到的光强度 I2为
I2= RfR²I0 (3-2)
其中,R为样品的反射率。从上两式必威betway官网可以求出R 的值
R=√I2/I1 (3-3)
从上式可知,通过参比反射镜 R测试的反射率R 为绝对反射率。该方法适合于测量高反射膜,得到的反射率的准确度可以高于光度测量的准确度。由于在样品上反射两次,该方法不适合于测量低反射率,特别是减反射膜。另外,该方法要求样品有一定的面积,以保证光线可以在样品表面有两次反射。反射率R是这两个反射光斑处的样品反射率的几何平均值。
- 上一个:光学薄膜检测技术-薄膜透过率测量
- 下一个:光学薄膜检测技术-影响测量准确度的因素
新闻资讯
-
2024-06-20 10:23:16
干涉仪-实验方法
-
2024-06-19 11:03:00
干涉仪-组装调试的要点
-
2024-06-18 10:54:10
干涉原理
-
2024-06-13 10:01:54
干涉仪的特点
-
2024-06-12 10:26:21
干涉仪指南
-
2024-04-16 10:13:18
超长工作距离变倍显微镜